An Optimized Method for Computer-Aided DC Measurements of Power MOS Transistors

  1. Gracia, J.
  2. Aranceta, F.J.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662,  0018-9456

Ano de publicación: 1988

Volume: 37

Número: 3

Páxinas: 393-397

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/19.7462 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus