An Optimized Method for Computer-Aided DC Measurements of Power MOS Transistors

  1. Gracia, J.
  2. Aranceta, F.J.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662,  0018-9456

Any de publicació: 1988

Volum: 37

Número: 3

Pàgines: 393-397

Tipus: Article

DOI: 10.1109/19.7462 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus