An Optimized Method for Computer-Aided DC Measurements of Power MOS Transistors

  1. Gracia, J.
  2. Aranceta, F.J.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662,  0018-9456

Argitalpen urtea: 1988

Alea: 37

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 393-397

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/19.7462 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus