Estructura, cristalización y propiedades magnéticas del sistema amorfo co100-xpx

Abstract

SE PRESENTA UN ESTUDIO DE MUESTRAS DEL SISTEMA AMORFO CO100-XPX OBTENIDAS MEDIANTE ELECTRODEPOSICION EN EL RANGO DE COMPOSICIONES DADO POR X MAYOR QUE 10 Y MENOR QUE 25.MEDIANTE CALORIMETRIA DIFERENCIAL DE BARRIDO, MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO Y DIFRACCION DE RAYOS X SE HAN ESTUDIADO LA CINETICA DE CRISTALIZACION DEL SISTEMA Y LA MICROESTRUCTURA RESULTANTE, CALCULANDOSE LAS CURVAS T-T-T Y T-RC-T.LA MICROSCOPIA DE EFECTO TUNEL, COMBINADA CON MEDIDAS DE EXAFS, HA PERMITIDO REALIZAR ESTUDIOS DE LA SUPERFICIE DE LAS MUESTRAS TANTO EN EL RANGO DE LOS MILES DE ANGSTRON HASTA OBTENER RESOLUCION ATOMICA.SE HAN REALIZADO MEDIDAS MEDIANTE VSM ENTRE 70K Y 300K TANTO EN MUESTRAS AMORFAS COMO CRISTALINAS Y SE HAN ESTUDIADO LAS VARIACIONES DE IMANACION Y CAMPO DE ANISOTROPIA DE LAS MISMAS EN FUNCION DE LA TEMPERATURA.TODAS LAS TECNICAS EMPLEADAS INDICAN QUE DURANTE LOS PROCESOS DE DIFUSION QUE TIENEN LUGAR EN LA CRISTALIZACION EXISTE UN EFECTO POLARIZADOR DE LA IMANACION QUE ORIGINA UNA ESTRUCTURA CRISTALINA CON TEXTURA MUY DEFINIDA, SIENDO LOS EJES DE FACIL IMANACION PERPENDICULARES AL PLANO DE LA MUESTRA.